Positive Technologies представила лазерный комплекс для поиска уязвимостей в чипах

На Петербургском международном экономическом форуме разработчики представили LFI-26 — первый российский комплекс для тестирования безопасности микросхем с помощью лазерного излучения. Устройство позволяет специалистам находить критические уязвимости в защите аппаратного обеспечения, имитируя попытки взлома через внесение управляемых сбоев в работу электронных компонентов.

Ранее отечественные компании зависели от импорта аналогичных систем от французской ALPhANOV или нидерландской Riscure. Теперь необходимость в иностранных поставках отпадает. По словам руководителя R&D Центра Positive Labs Алексея Усанова, создание LFI-26 стало ответом на уход западных вендоров, что критически важно для анализа безопасности как зарубежных чипов, так и собственной элементной базы.

Принцип работы комплекса основан на сфокусированном воздействии на микросхему, что дает исследователям полный контроль над устройством и данными. Спектр применения технологии охватывает устройства любого уровня сложности: от банковских карт и смартфонов до автомобильных систем управления и бортового оборудования орбитальных спутников. LFI-26 пополнил линейку инструментов для исследования микроэлектроники, в которую также входят системы электромагнитного воздействия и анализа побочных каналов.