Терагерцовое зрение: ученые заглянули внутрь работающего процессора

Физики из Университета Аделаиды разработали метод бесконтактного мониторинга микросхем с помощью терагерцового излучения. Технология позволяет в реальном времени видеть, как переключаются транзисторы в работающем чипе, не нарушая его структуру.

Исследователи предложили использовать микроволновый сигнал, который через специальный удвоитель частоты преобразуется в терагерцовую волну и направляется на поверхность процессора. Когда чип выполняет вычисления, работа его компонентов влияет на характеристики отраженного сигнала. Сравнивая исходную волну с вернувшейся, ученые фиксируют минимальные колебания амплитуды и фазы, что дает возможность буквально «видеть» логические операции в динамике.

Барьеры для внедрения и угрозы

Несмотря на успех эксперимента, у метода есть серьезные технологические ограничения. Современные процессоры часто имеют сложную многослойную компоновку или 3D-структуры, в которых излучению крайне сложно локализовать источник сигнала из конкретного слоя.

Помимо диагностических целей, технология вызывает вопросы у экспертов по кибербезопасности. По словам авторов работы, в будущем подобный метод дистанционного сканирования может быть адаптирован для несанкционированного считывания данных прямо во время работы процессора, что создает риски появления новых типов атак на аппаратном уровне.